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產(chǎn)品中心半導(dǎo)體材料測(cè)試霍爾電阻遷移率非接觸Hall和方塊電阻測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
非接觸Hal和方塊電陽(yáng)測(cè)試系統(tǒng)，可對(duì)GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各種半導(dǎo)體材料設(shè)計(jì)的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器件結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試。
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